LA-S多功能植物图像分析系统

名称:多功能植物图像分析系统         型号:LA-S         产地:中国

用途:LA-S多功能植物图像分析仪是一种在实验室使用的植物图像分析设备。采用全球统一标准,可精确、快速地测定叶片的叶面积和叶色参数,以及瓜果截面各部分的参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量,还可进行叶片颜色分析(包括按叶片颜色自动分档查询,用于植物或作物氮肥状态的快速评价)。系统的植物年轮分析模块可用于树木年代学、年轮生态环境变化学、年轮气候学、地理科学、考古学研究。植物根系分析模块为模块,用于洗根后的专业根系分析,可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,其功能强大,操作简单,运用于根系形态和构造研究。该仪器综合了植物、农作物在叶面积、病斑面积、虫损叶面积、根系、年轮、叶色、瓜果剖切面,以及棉纤维粗细和长度这8大方面的分析功能,广泛适用于农业、林业、气象等部门。

LA-S多功能植物图像分析系统

LA-S多功能植物图像分析系统

LA-S多功能植物图像分析系统

植物叶面积分析

植物叶色比对分档

LA-S多功能植物图像分析系统

LA-S多功能植物图像分析系统

植物年轮分析

植物年轮分析

LA-S多功能植物图像分析系统

LA-S多功能植物图像分析系统

植物根系分析

植物根系分析

LA-S多功能植物图像分析系统

LA-S多功能植物图像分析系统

西瓜剖面各部位分析

橙子剖面各部位分析

技术规格:

硬件规格:

光学分辨率

4800×9600 dpi

最大分辨率

65535×65535 dpi

拍摄箱

封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰

最大分析测量面积

最大分析面积356 mm × 216 mm,如果配合根盘使用分析面积为300 mm × 200 mm

分辨的最小尺寸

0.008 ×0.008 mm

图像分析测量精度

X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25%

长度测量重现性误差

<±0.25%

面积测量重现性误差

<±0.25%

台间测量差异

<±0.25%

测量总时间

30~60秒

软件功能:

叶片分析

可全自动地大批量分析计算叶面积,并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积,及分析小至1mm2的叶片。叶面积 (可累计面积)、叶片面积(可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量,叶片锯齿高度、宽度、数量测量,叶孔面积测量;包膜(齿-齿之间的直线长度和),包膜形成的投影面积;不规则叶片形态分析,真彩的病斑、虫损面积分析(含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析),叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询,用于氮肥状态的外观评价)。同时分析多片叶时,可得到叶片总面积、周长等参数,也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数。

植物根系分析

植物根系可分析测量:1)根总长;2)根平均直径;3)根总面积;4)根总体积;5)根尖计数;6)分叉计数;7)交叠计数;8)根直径等级分布参数;9)根尖段长分布,10)可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等,及其分布参数;11)能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。12)能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等,可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改,可不等间距地自定义),并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能多步回退,以快速获得100%正确的结果。精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%。匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可读取TIFF、BMP、JPEG、PNG、PCX标准格式的图像。可兼做针叶面积、体积测量,以及棉纤维粗细、长度测量。

瓜果剖面分析

瓜果剖面各部位分析:1).可测西瓜的:纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长;2).可测哈密瓜等甜瓜的:纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔(纵径、横径、面积);3).可测苹果、梨等的:纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长;4).可测柑橘类水果的:纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。还可分析木材的边材面积。

植物年轮分析

可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮,可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成分析年表。可以直接分析最大达到2万万像素(2亿像素)的超高精度扫描的超大幅面年轮图像(能分析在3200dpi分辨率下,成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像(A3扫描仪),精度远高于目前常用的1600dpi分辨率)。具有【精细】分析选项,可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮,分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积。

人工辅助修正

图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正

统计效果监视

监视和修正植物对象分析的精度

自动杂质剔除

根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除

辅助测量功能

尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;

数据报表导出

分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用

产地:中国

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