PLS Plus激光微地貌扫描仪

名称:激光微地貌扫描仪         型号:PLS Plus         产地:美国

用途:PLS Plus激光微地貌扫描仪基于三角测量原理测量地表微地貌高程,采用激光扫描获取各点高程,测量精度可以达到亚毫米级,测量过程无需接触土壤表面,解决了测针法对土表扰动的弊端,测量结果更可靠,能准确反映地表微地貌的细微变化。

 

原理及应用:利用线性激光的反射与CCD成像原理,将地表形态转换成不同物象点位置的电信号,再经计算机软件处理成数字高程模型(DEM),进而评价土壤侵蚀程度或进行相关机理研究。相对于PLS第一代产品,扫描速度更快,精度更高,采用笔记本电脑采集数据,野外使用更加方便。

PLS Plus激光微地貌扫描仪

 

应用领域:

■土表微地貌特征评价指标筛选与算法实现

■连续降雨过程中土表微地貌特征演变

■不同粗糙度土表粗糙度模型建立

■不同坡度剖面侵蚀及侵蚀泥沙分布

实测图:

  

技术参数:

■剖面分辨率:0.5 mm

■垂直分辨率:0.1 mm

■测量宽度:60 cm

■测量长度:最大3 m

■每分钟可扫描大于400个剖面

■实验室和野外都可使用

■没有土壤类型限制

■数据为XYZ 高程或矩阵数据

 

仪器配置:

主系统:

■3米移动滑轨(长度可按要求定制)

■激光器发射器

■CCD照相机及镜头

■笔记本电脑(可选野外笔记本电脑)

■系统控制箱

■野外使用可选蓄电池或交流电供电(需订购时说明)

移动框架:

■铝合金框架

■4个万向轮

■4个水平调整器

■扫描仪固定装置

 

 

产地:美国

 

渠道科技

北京渠道科学仪器有限公司

搜索文章

热门标签